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製　品 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-
メーカー ｻ-ﾓﾌｨｼｬ-(FEI)
型　番 Quanta400 年 式 不明
価　格 お問合せ 参　考 -
仕　様










点検整備中
  本体:Qunta400
　二次電子検出器
　反射電子検出器
ﾊﾞﾘｽｨｸ･ｻﾌﾞｽﾃ-ｼﾞ
ｻﾎﾟ-ﾄｺﾝﾋﾟｭ-ﾀ(WindowsXP.英語版)
Forensicﾊﾟｯｹ-ｼﾞ
　GSR-XT　NS　GSR-XTｿﾌﾄｳｪｱ
　EDX　GSRﾊ-ﾄﾞｳｪｱ
　GENESIS2000ｼｽﾃﾑ及びSUT検出器
備　考
  点検整備中
ジャンル [05.電子顕微鏡]　該当：16件
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X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-

凍結真空乾燥装置

分析走査電子顕微鏡

原子力間顕微鏡

研磨器

走査型原子間力顕微鏡

走査電子顕微鏡

電子式試料凍結装置

ｲｵﾝｸﾘ-ﾅ-

ｶ-ﾎﾞﾝｺ-ﾀ
△ 管理番号 DK0084 DK0041 DK0040 027885 019139 DK0039 DK0091 DK0062 024881 DK0079
▼ 製 品 名 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ- 凍結真空乾燥装置 分析走査電子顕微鏡 原子力間顕微鏡 研磨器 走査型原子間力顕微鏡 走査電子顕微鏡 電子式試料凍結装置 ｲｵﾝｸﾘ-ﾅ- ｶ-ﾎﾞﾝｺ-ﾀ
△ 型    番 Quanta400 ES-2030 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-QuantA400HV Dimention5 MetaServ250 NANO-RJ SuperScan-550 EF-20 JIC-410 JEC-570
△ メーカー ｻ-ﾓﾌｨｼｬ-(FEI) 日立ﾊｲﾃｸ FEI 日本ビ-コ ﾋﾞｭﾗ- ﾊﾟｼﾌｨｯｸﾃｸﾉﾛｼﾞ-(東陽ﾃｸﾆｶ) 島津製作所 日本ﾐｸﾛﾄ-ﾑ研究所 日本電子 日本電子
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ｾｸｼｮﾆﾝｸﾞ光学顕微鏡

ﾌﾗﾄﾐ-ﾘﾝｸﾞ装置

ﾘｱﾙｶﾗ-ｺﾝﾌｫ-ｶﾙ(共焦点)顕微鏡

ﾚ-ｻﾞ-ｽｷｬﾝ顕微鏡

ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ

ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ

  
△ 管理番号 KE0315 024961 018731 DK0087 KE0300 KE0287
▼ 製 品 名 ｾｸｼｮﾆﾝｸﾞ光学顕微鏡 ﾌﾗﾄﾐ-ﾘﾝｸﾞ装置 ﾘｱﾙｶﾗ-ｺﾝﾌｫ-ｶﾙ(共焦点)顕微鏡 ﾚ-ｻﾞ-ｽｷｬﾝ顕微鏡 ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ
△ 型    番 DeltaVisionCORE E-3200 OPTELICS　C130 LSM-510ConfoCor3-APO AS-LMD PALM-MBⅢ
△ メーカー ｾｷﾃｸﾉﾄﾛﾝ 日立ﾊｲﾃｸ ﾚ-ｻﾞ-ﾃｯｸ ﾂｱｲｽ ﾗｲｶ ﾂｱｲｽ
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