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管理番号 DK0074 お問い合わせはこちら
製 品 走査電子顕微鏡
メーカー 日立ハイテク
型 番 S-3000+EDX 年 式 2006年 月
価 格 お問合せ 参 考 -
仕 様










  本体:S-3000
 測長測定装置:
EDX:エネルギ-分散式分析装置:7021H
  :Resolution:138eV
冷却水循環装置:W5030




備 考
  点検整備済み
ジャンル [05.電子顕微鏡] 該当:17件
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リアルカラ-コンフォ-カル(共焦点)顕微鏡

研磨器

卓上SEM

イオンクリ-ナ-

フラトミ-リング装置

原子力間顕微鏡

走査型原子間力顕微鏡

分析走査電子顕微鏡

凍結真空乾燥装置

電子式試料凍結装置

 管理番号 018731 019139 023501 024881 024961 027885 DK0039 DK0040 DK0041 DK0062
 製 品 名 リアルカラ-コンフォ-カル(共焦点)顕微鏡 研磨器 卓上SEM イオンクリ-ナ- フラトミ-リング装置 原子力間顕微鏡 走査型原子間力顕微鏡 分析走査電子顕微鏡 凍結真空乾燥装置 電子式試料凍結装置
 型    番 OPTELICS C130 MetaServ250 TM-3030プラス JIC-410 E-3200 Dimention5 NANO-RJ X線マイクロアナライザ-QuantA400HV ES-2030 EF-20
 メーカー レ-ザ-テック ビュラ- 日立ハイテク 日本電子 日立ハイテク 日本ビ-コ パシフィックテクノロジ-(東陽テクニカ) FEI 日立ハイテク 日本ミクロト-ム研究所
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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カ-ボンコ-タ

X線マイクロアナライザ-

レ-ザ-スキャン顕微鏡

走査電子顕微鏡

レ-ザ-マイクロダイセクションシステム

レ-ザ-マイクロダイセクションシステム

セクショニング光学顕微鏡

 
 管理番号 DK0079 DK0084 DK0087 DK0091 KE0287 KE0300 KE0315
 製 品 名 カ-ボンコ-タ X線マイクロアナライザ- レ-ザ-スキャン顕微鏡 走査電子顕微鏡 レ-ザ-マイクロダイセクションシステム レ-ザ-マイクロダイセクションシステム セクショニング光学顕微鏡
 型    番 JEC-570 Quanta400 LSM-510ConfoCor3-APO SuperScan-550 PALM-MBV AS-LMD DeltaVisionCORE
 メーカー 日本電子 サ-モフィシャ-(FEI) ツアイス 島津製作所 ツアイス ライカ セキテクノトロン
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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