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製 品 走査プロ-ブ顕微鏡
メーカー 日本電子
型 番 JSPM-5200 年 式 2004年 月
価 格 お問合せ 参 考 -
仕 様 分解能:AFM:原子分解能(ContactMode時マイカ原子像)
   :STM:原子分解能(HOPG原子像)
システムドリフト量:0.05nm/S以下 ドリフトフリ-ステ-ジ
測定モ-ド(AFM):コンタクトモ-ド/ACモ-ド/ノンコンタクトモ-ド(FMモ-ド)
測定モ-ド(STM):STMモ-ド:凹凸像.電流像.CTTS.I-V.S-V.I-S
走査範囲:XY:0〜20μm(標準スキャナ-)分解能25bit(オフセット含む)
    :Z:0〜3μm(標準スキャナ)分解能21bit(サ32ゲイン時)
    チュ-ブ形スキャナ使用(交換可能)
試料サイズ:最大540mmx50mmx5mmT
外寸:本体:710x710x1150h/250kg.制御ユニット:570x810x730h/80kg
  :コンプレサ-:290φx530h/17kg
電源:AC100V 15A  真空排気システム取り付け時:1.5KVAx2
 








備 考
 
ジャンル [05.電子顕微鏡] 該当:17件
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リアルカラ-コンフォ-カル(共焦点)顕微鏡

研磨器

卓上SEM

イオンクリ-ナ-

フラトミ-リング装置

原子力間顕微鏡

走査型原子間力顕微鏡

分析走査電子顕微鏡

凍結真空乾燥装置

電子式試料凍結装置

 管理番号 018731 019139 023501 024881 024961 027885 DK0039 DK0040 DK0041 DK0062
 製 品 名 リアルカラ-コンフォ-カル(共焦点)顕微鏡 研磨器 卓上SEM イオンクリ-ナ- フラトミ-リング装置 原子力間顕微鏡 走査型原子間力顕微鏡 分析走査電子顕微鏡 凍結真空乾燥装置 電子式試料凍結装置
 型    番 OPTELICS C130 MetaServ250 TM-3030プラス JIC-410 E-3200 Dimention5 NANO-RJ X線マイクロアナライザ-QuantA400HV ES-2030 EF-20
 メーカー レ-ザ-テック ビュラ- 日立ハイテク 日本電子 日立ハイテク 日本ビ-コ パシフィックテクノロジ-(東陽テクニカ) FEI 日立ハイテク 日本ミクロト-ム研究所
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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カ-ボンコ-タ

X線マイクロアナライザ-

レ-ザ-スキャン顕微鏡

走査電子顕微鏡

レ-ザ-マイクロダイセクションシステム

レ-ザ-マイクロダイセクションシステム

セクショニング光学顕微鏡

 
 管理番号 DK0079 DK0084 DK0087 DK0091 KE0287 KE0300 KE0315
 製 品 名 カ-ボンコ-タ X線マイクロアナライザ- レ-ザ-スキャン顕微鏡 走査電子顕微鏡 レ-ザ-マイクロダイセクションシステム レ-ザ-マイクロダイセクションシステム セクショニング光学顕微鏡
 型    番 JEC-570 Quanta400 LSM-510ConfoCor3-APO SuperScan-550 PALM-MBV AS-LMD DeltaVisionCORE
 メーカー 日本電子 サ-モフィシャ-(FEI) ツアイス 島津製作所 ツアイス ライカ セキテクノトロン
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