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製 品 フラトミ-リング装置
メーカー 日立ハイテク
型 番 E-3200 年 式 2005年10月
価 格 お問合せ 参 考 6,800,000
仕 様 イオン源:印加電圧:1〜6KV(連続可変).放電電流:0〜1.5mA
   :タイマ-:セット数字:001〜999(3桁)時間単位:0.1s/1s/0.1m/7段
試料ステ-ジ:回転:約25min-1乗/傾斜:10〜90°/
     :試料径:最大25mmφ.高さ:最大15mm
排気系:DP(4インチ)400dm3乗/S.RP:140m3/min(50Hz)168(60Hz)
放電ガス:ガス:純アルゴンガスB(99.999%).圧力:0.03MPa
    :流量(最大):5cm/min.流量調整:N.V/M.F.C
冷却水:水道水:流量:1.0〜1.5m3/min水圧:50〜100KPa
光学顕微鏡:ズ-ム式実体顕微鏡(23.1〜90倍)
安全装置:断水.停電.真空度安全装置他
電源:AC100V 154A
外寸/重量:700x5625x1250h/100kg
 








アルゴンガスが必要です
備 考
 
ジャンル [05.電子顕微鏡] 該当:16件
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リアルカラ-コンフォ-カル(共焦点)顕微鏡

研磨器

イオンクリ-ナ-

フラトミ-リング装置

原子力間顕微鏡

走査型原子間力顕微鏡

分析走査電子顕微鏡

凍結真空乾燥装置

電子式試料凍結装置

カ-ボンコ-タ

 管理番号 018731 019139 024881 024961 027885 DK0039 DK0040 DK0041 DK0062 DK0079
 製 品 名 リアルカラ-コンフォ-カル(共焦点)顕微鏡 研磨器 イオンクリ-ナ- フラトミ-リング装置 原子力間顕微鏡 走査型原子間力顕微鏡 分析走査電子顕微鏡 凍結真空乾燥装置 電子式試料凍結装置 カ-ボンコ-タ
 型    番 OPTELICS C130 MetaServ250 JIC-410 E-3200 Dimention5 NANO-RJ X線マイクロアナライザ-QuantA400HV ES-2030 EF-20 JEC-570
 メーカー レ-ザ-テック ビュラ- 日本電子 日立ハイテク 日本ビ-コ パシフィックテクノロジ-(東陽テクニカ) FEI 日立ハイテク 日本ミクロト-ム研究所 日本電子
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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X線マイクロアナライザ-

レ-ザ-スキャン顕微鏡

走査電子顕微鏡

レ-ザ-マイクロダイセクションシステム

レ-ザ-マイクロダイセクションシステム

セクショニング光学顕微鏡

 
 管理番号 DK0084 DK0087 DK0091 KE0287 KE0300 KE0315
 製 品 名 X線マイクロアナライザ- レ-ザ-スキャン顕微鏡 走査電子顕微鏡 レ-ザ-マイクロダイセクションシステム レ-ザ-マイクロダイセクションシステム セクショニング光学顕微鏡
 型    番 Quanta400 LSM-510ConfoCor3-APO SuperScan-550 PALM-MBV AS-LMD DeltaVisionCORE
 メーカー サ-モフィシャ-(FEI) ツアイス 島津製作所 ツアイス ライカ セキテクノトロン
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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