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管理番号 KX0172 お問い合わせはこちら
製 品 エレメントアナライザ-
メーカー 日本電子
型 番 JSX-3400RU 年 式 2008年 月
価 格 お問合せ 参 考 -
仕 様 X線発生装置:管電圧/管電流:最大50KV/最大1mA
管球:方式/タ-ゲット/ベリリウム窓厚/冷却方式:エンドウィンドウ/Rh/76μ/空冷
試料励起方式:直接励起.雰囲気:大気.真空
試料室:寸法:300φx150h 試料充填数:1個
有効X線照射系:最大15mmφ.X線フィルタ-:4種自動交換(Cd.Pb.Cr.無し)
1次コリメ-タ:3種(1mmφ.3mmφ.7mmφ)
X線検出器:検出元素範囲:Na〜U
外寸:/重量:650x750x460h/80kg
電源:AC100V 15A

環境:室温:18〜28℃
  本体:JSX-3400RU
 大気+真空仕様
 試料観察機構付き:EQ-260100B

デ-タ処理装置:OS:WindwsXP SP-2  HDD:500GB
      :ソフトウェア:環境分析ソフトウェア
          :分析結果報告作成ソフト
エネルギ-校正標準試料  Al-Mn-Mo混合成形
強度校正試料1.2 各1個
RoHSチェック試料 基準試料(Cd.Pb.br.Cr添加.基準試料(Hg添加)
備 考        基準試料(Hg添加)
  点検整備中
ジャンル [09.蛍光X線分析装置] 該当:25件
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スパ-ク放電発光分析装置

蛍光X線膜厚計

X線分析装置

X線分析装置(有害元素)

X線分析顕微鏡

X線分析顕微鏡

蛍光X線分析装置

X線顕微鏡

X線顕微鏡

X線顕微鏡

 管理番号 KX0197 KX0179 DK0037 DK0034 DK0008 DK0033 KX0138 DK0009 DK0010 DK0035
 製 品 名 スパ-ク放電発光分析装置 蛍光X線膜厚計 X線分析装置 X線分析装置(有害元素) X線分析顕微鏡 X線分析顕微鏡 蛍光X線分析装置 X線顕微鏡 X線顕微鏡 X線顕微鏡
 型    番 QS-1000 STF-9200 WGT-5000WR XGT-5000WR XGT-5100WRSL XGT-5200WR XGT-5000WR(TypeTC) XGT-1000WR XGT-1000WR XGT-1000WR
 メーカー OBLF Sii 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所
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発光分析装置

発光分析装置(アルミ分析用)

蛍光X線分析装置

エネルギ-分散型微小部蛍光X線分析装置

エレメントアナライザ-

簡易型ビ-ド&フェ-ズサンプラ-(高周波溶融装置

蛍光X線膜厚計

蛍光X線膜厚計

蛍光膜厚測定器

X線分析装置

 管理番号 KX0191 KX0176 KX0038 KX0165 KX0172 020977 SA0071 KX0175 KX0171 KX0174
 製 品 名 発光分析装置 発光分析装置(アルミ分析用) 蛍光X線分析装置 エネルギ-分散型微小部蛍光X線分析装置 エレメントアナライザ- 簡易型ビ-ド&フェ-ズサンプラ-(高周波溶融装置 蛍光X線膜厚計 蛍光X線膜厚計 蛍光膜厚測定器 X線分析装置
 型    番 PDA-7000(アルミ合金用) PDA-7000 XRF-1800 μEDX-1200 JSX-3400RU TK-4200 X-STRATA960A XDLM-C4-PCB XDL-B-XymZ XAN-FD
 メーカー 島津製作所 島津製作所 島津製作所 島津製作所 日本電子 東京科学 オックスフォ-ドインスルメント フィッシャ-・インスルメント フィッシャ-・インスルメント フィシャ-インスルメント
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蛍光X線膜厚測定器

全自動蛍光X線分析装置

蛍光X線分析装置

粉砕機

頭部白金付きトング

 
 管理番号 ZZ0169 KX0140 KX0199 KX0164 ZZ0048
 製 品 名 蛍光X線膜厚測定器 全自動蛍光X線分析装置 蛍光X線分析装置 粉砕機 頭部白金付きトング
 型    番 XDLM-C4 PCB ZSX-100e ZSXPrimusVplus TI-100 210mm
 メーカー フィシャ-スコ-プ リガク リガク リガク(CMT) ---
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ 0
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