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製　品 ﾌﾗﾄﾐ-ﾘﾝｸﾞ装置
メーカー 日立ﾊｲﾃｸ
型　番 E-3200 年 式 2005年10月
価　格 お問合せ 参　考 6,800,000
仕　様 ｲｵﾝ源:印加電圧:1～6KV(連続可変).放電電流:0～1.5mA
　　　:ﾀｲﾏ-:ｾｯﾄ数字:001～999(3桁)時間単位:0.1s/1s/0.1m/7段
試料ｽﾃ-ｼﾞ:回転:約25min-1乗/傾斜:10～90°/
　　　　　:試料径:最大25mmφ.高さ:最大15mm
排気系:DP(4ｲﾝﾁ)400dm3乗/S.RP:140m3/min(50Hz)168(60Hz)
放電ｶﾞｽ:ｶﾞｽ:純ｱﾙｺﾞﾝｶﾞｽB(99.999％).圧力:0.03MPa
　　　　:流量(最大):5cm/min.流量調整:N.V/M.F.C
冷却水:水道水:流量:1.0～1.5m3/min水圧:50～100KPa
光学顕微鏡:ｽﾞ-ﾑ式実体顕微鏡(23.1～90倍)
安全装置:断水.停電.真空度安全装置他
電源:AC100V　154A
外寸/重量:700x5625x1250h/100kg
 








ｱﾙｺﾞﾝｶﾞｽが必要です
備　考
 
ジャンル [05.電子顕微鏡]　該当：16件
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ｾｸｼｮﾆﾝｸﾞ光学顕微鏡

ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ

ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ

走査電子顕微鏡

ﾚ-ｻﾞ-ｽｷｬﾝ顕微鏡

X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-

ｶ-ﾎﾞﾝｺ-ﾀ

電子式試料凍結装置

凍結真空乾燥装置

分析走査電子顕微鏡
▲ 管理番号 KE0315 KE0300 KE0287 DK0091 DK0087 DK0084 DK0079 DK0062 DK0041 DK0040
△ 製 品 名 ｾｸｼｮﾆﾝｸﾞ光学顕微鏡 ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ 走査電子顕微鏡 ﾚ-ｻﾞ-ｽｷｬﾝ顕微鏡 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ- ｶ-ﾎﾞﾝｺ-ﾀ 電子式試料凍結装置 凍結真空乾燥装置 分析走査電子顕微鏡
△ 型    番 DeltaVisionCORE AS-LMD PALM-MBⅢ SuperScan-550 LSM-510ConfoCor3-APO Quanta400 JEC-570 EF-20 ES-2030 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-QuantA400HV
△ メーカー ｾｷﾃｸﾉﾄﾛﾝ ﾗｲｶ ﾂｱｲｽ 島津製作所 ﾂｱｲｽ ｻ-ﾓﾌｨｼｬ-(FEI) 日本電子 日本ﾐｸﾛﾄ-ﾑ研究所 日立ﾊｲﾃｸ FEI
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走査型原子間力顕微鏡

原子力間顕微鏡

ﾌﾗﾄﾐ-ﾘﾝｸﾞ装置

ｲｵﾝｸﾘ-ﾅ-

研磨器

ﾘｱﾙｶﾗ-ｺﾝﾌｫ-ｶﾙ(共焦点)顕微鏡

  
▲ 管理番号 DK0039 027885 024961 024881 019139 018731
△ 製 品 名 走査型原子間力顕微鏡 原子力間顕微鏡 ﾌﾗﾄﾐ-ﾘﾝｸﾞ装置 ｲｵﾝｸﾘ-ﾅ- 研磨器 ﾘｱﾙｶﾗ-ｺﾝﾌｫ-ｶﾙ(共焦点)顕微鏡
△ 型    番 NANO-RJ Dimention5 E-3200 JIC-410 MetaServ250 OPTELICS　C130
△ メーカー ﾊﾟｼﾌｨｯｸﾃｸﾉﾛｼﾞ-(東陽ﾃｸﾆｶ) 日本ビ-コ 日立ﾊｲﾃｸ 日本電子 ﾋﾞｭﾗ- ﾚ-ｻﾞ-ﾃｯｸ
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