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製　品 分析走査電子顕微鏡
メーカー FEI
型　番 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-QuantA400HV 年 式 2008年12月
価　格 お問合せ 参　考 53,113,000
仕　様 分解能:高真空:3.5nm 30KV.低真空:3.5nm　30kv.15nm　3KV
試料室真空度:10-4Pa～2600Pa
加速電圧:200V～30KV
倍率:x6～x1000000
試料交換:ﾄﾞﾛ-ｱｳﾄ方式
試料室:内径280mm
ｽﾃ-ｼﾞ:5軸ﾓ-ﾀ駆動.X-Y:100mmx100mm.傾斜:-5～+70°(自動)
　　　　　　　　.Z:60mm.回転:360°



点検整備中
  本体:Quanta400HV
　加速電圧:200V～30KV.分解能:3.5nm(30KV)
　5軸ﾓ-ﾀ-ﾄﾞﾗｲﾌﾞｽﾃ-ｼﾞ:100x100mm
　試料ﾎﾙﾀﾞ-:TMA排気ｼｽﾃﾑ.SEM制御陽ｿﾌﾄ:制御用PC(OS:WindowsXP)
ｴﾈﾙｷﾞ分散型X線分析装置:GSRﾊﾟｯｹ-ｼﾞ
　ｴﾈﾙｷﾞ-分散型X線分析装置
　Si(Li)検出器:EDAX　UTW検出器
　ﾃﾞｼﾞﾀﾙﾊﾟﾙｽﾌﾟﾛｾｯｻ-
備　考
  点検整備中
ジャンル [05.電子顕微鏡]　該当：16件
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ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ

ｾｸｼｮﾆﾝｸﾞ光学顕微鏡

原子力間顕微鏡

ﾌﾗﾄﾐ-ﾘﾝｸﾞ装置

電子式試料凍結装置

凍結真空乾燥装置

ｶ-ﾎﾞﾝｺ-ﾀ

ｲｵﾝｸﾘ-ﾅ-

ﾚ-ｻﾞ-ｽｷｬﾝ顕微鏡

研磨器
△ 管理番号 KE0300 KE0315 027885 024961 DK0062 DK0041 DK0079 024881 DK0087 019139
△ 製 品 名 ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ ｾｸｼｮﾆﾝｸﾞ光学顕微鏡 原子力間顕微鏡 ﾌﾗﾄﾐ-ﾘﾝｸﾞ装置 電子式試料凍結装置 凍結真空乾燥装置 ｶ-ﾎﾞﾝｺ-ﾀ ｲｵﾝｸﾘ-ﾅ- ﾚ-ｻﾞ-ｽｷｬﾝ顕微鏡 研磨器
▼ 型    番 AS-LMD DeltaVisionCORE Dimention5 E-3200 EF-20 ES-2030 JEC-570 JIC-410 LSM-510ConfoCor3-APO MetaServ250
△ メーカー ﾗｲｶ ｾｷﾃｸﾉﾄﾛﾝ 日本ビ-コ 日立ﾊｲﾃｸ 日本ﾐｸﾛﾄ-ﾑ研究所 日立ﾊｲﾃｸ 日本電子 日本電子 ﾂｱｲｽ ﾋﾞｭﾗ-
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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走査型原子間力顕微鏡

ﾘｱﾙｶﾗ-ｺﾝﾌｫ-ｶﾙ(共焦点)顕微鏡

ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ

X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-

走査電子顕微鏡

分析走査電子顕微鏡

  
△ 管理番号 DK0039 018731 KE0287 DK0084 DK0091 DK0040
△ 製 品 名 走査型原子間力顕微鏡 ﾘｱﾙｶﾗ-ｺﾝﾌｫ-ｶﾙ(共焦点)顕微鏡 ﾚ-ｻﾞ-ﾏｲｸﾛﾀﾞｲｾｸｼｮﾝｼｽﾃﾑ X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ- 走査電子顕微鏡 分析走査電子顕微鏡
▼ 型    番 NANO-RJ OPTELICS　C130 PALM-MBⅢ Quanta400 SuperScan-550 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-QuantA400HV
△ メーカー ﾊﾟｼﾌｨｯｸﾃｸﾉﾛｼﾞ-(東陽ﾃｸﾆｶ) ﾚ-ｻﾞ-ﾃｯｸ ﾂｱｲｽ ｻ-ﾓﾌｨｼｬ-(FEI) 島津製作所 FEI
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